![中山如何检测硅片?]()
华谨第三方检测机构。针对企业在产品研发、质量控制、性能改进、工业诊断等过程中遇到的问题，提供专业分析、检测、测试等综合性解决方案。wmepg4654ag
佛山华谨检测第三方检测机构
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检测费用：免费初检，初检之后根据客户检测需求以及实验复杂程度进行报价。
硅片检测范围
太阳能硅片，多晶硅片，半导体硅片
硅片检测项目
厚度检测，隐裂检测，反射率检测，翘曲度检测，电阻检测，工业问题诊断等。
硅片检测标准
GB/T 6616-2009半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试
GB/T 6617-2009硅片电阻率测定
GB/T 6618-2009硅片厚度和总厚度变化测试
GB/T 6619-2009硅片弯曲度测试
GB/T 6620-2009硅片翘曲度非接触式测试
GB/T 6621-2009硅片表面平整度测试
GB/T 11073-2007硅片径向电阻率变化的测量
GB/T 13388-2009硅片参考面结晶学取向X射线测试
GB/T 14140-2009硅片直径测量
GB/T 19444-2004硅片氧沉淀特性的测定
GB/T 19922-2005硅片局部平整度非接触式标准测试
GB/T 24577-2009热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物
GB/T 24578-2015硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试
GB/T 26067-2010硅片切口尺寸测试
GB/T 29055-2012太阳电池用多晶硅片
GB/T 29055-2019太阳能电池用多晶硅片
GB/T 29505-2013硅片平坦表面的表面粗糙度测量
GB/T 29507-2013硅片平整度、厚度及总厚度变化测试
GB/T 30859-2014太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试
GB/T 30860-2014太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试
GB/T 30869-2014太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试
GB/T 32280-2015硅片翘曲度测试